筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
在装备的研制生产中,元器件二次筛选(补充筛选)主要适用于下面几种情况:
1、元器件生产方未进行一次筛选。
2、 元器件使用方无法获得一次筛选的信息,对一次筛选的项目和应力不了解。进口元器件存 在此种情况居多。
3、元器件生产方进行一次筛选的项目或应力不能满足使用方对元器件的质量和可靠性要求。 元器件使用方的筛选要求一般由型号总体单位确定。
4、对于一些特殊的筛选项目,在元器件的产品规范中未作具体规定,元器件的生产方也不具 备筛选条件。
5、对元器件生产方是否已按合同和规范的要求进行一次筛选或对其一次筛选的有效性有疑问 的,需要进行验证的元器件。
元器件二次筛选是对一次筛选的补充,应在一次筛选的项目和应力基础上,综合考虑元器件的 使用条件和应用环境。 特殊性:各单位承担任务不同,对产品的可靠性要求不同,故没有一个统一的筛选规范标准。
元器件二次筛选程序的制定依据:
1、原则上应根据元器件现场使用或可靠性试验统计,对失效产品进行失效分析,搞清各种元 器件的失效模式和失效机理,针对元器件内部存在的缺陷,采取不同的应力,使有缺陷的 能提前暴露,将其剔除,而对良品则不受到任何损伤。对制定的各项筛选应力应通过大量 的试验验证,并对失效样品进行失效分析,经过充分论证来确定。
2、 根据现行标准,比如以GJB584、GJB128、GJB360等标准为基础 考虑整机系统对元器件的可靠性要求 3、考虑元器件使用环境条件、经费、研制周期 4、 筛选规定不是永远不变的,要根据元器件制造技术的提高,试验设备的发展,对元器件可 靠性要求的不同进行更改
外观检查:参考: GJB 128A-1997 方法2071、 GJB 548B - 2005方法2009.1等
电测试:常温测试、低温测试、高温测试 依据:GB、GJB、元器件规格书 专业电测试设备,包含电参数测试和功能测试
环境应力:扫频/随机振动、低温/高温存储、温度循环/温度冲击、恒定加 速度或跌落、粒子碰撞噪声(PIND)
寿命/老化/老炼 :老炼前/后电测试 反偏老炼,功率老炼等 **老炼箱、**老炼板
密封:细检漏、粗检漏
扫描声学显微镜 检查:高可靠性要求
X射线照相:参考:GJB 360A-1996 方法209、 GJB 128A-1997 方法2076、 GJB 548B-2005方法2012.1等
筛选设备:
电测试主要设备能力: 阻抗分析仪,高阻计 ,耐压测试仪 ,半导体参数测试系统 ,图示仪 ,网络分析仪 ,信号发生器 ,频谱分析仪 ,数字集成电路测试系统 ,模拟集成电路测试系统 ,继电器测试系统 ,LCR、电阻计等 ,电源模块测试系统
电测试筛选能力覆盖: 元件(阻容感、磁珠等), 分立器件 ,数字/模拟集成电路 ,线缆/连接器,继电器 ,晶振/晶谐 ,滤波器 ,电源模块
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